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Mardi 3 février 2009

Cliquez sur le titre des présentations pour lire une description complète.
9h00 - 10h30 Keynote Technologique par Marc DJAOUI
Avec l'intervention de Dr TRUCHARD, Président & Chief Executive Officer de National Instruments
10h30 - 11h00 Pause et visite de l'exposition
Thème Initiation Nouveautés Contrôle et automatisation Défense Instrumentation Programmation Travaux pratiques Travaux pratiques
11h00 - 11h30 Introduction à la programmation graphique avec NI LabVIEW

Par Sanaa TAZI
de National InstrumentsVidéo connexe >> 		Nouveautés en LabVIEW 8.6

Par Thomas BAUDOUIN
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Connecter LabVIEW à tout type d'automates

Par Christophe SOARES
de National Instruments		 Keynote Défense - Les nouvelles technologies pour le domaine militaire

Par José-Luis ALBUQUERQUE
de National Instruments		 Techniques pour définir l'architecture d'un système de test

Par Richard KEROMEN
de National Instruments		 Programmation parallèle : comparaison des methodes de programmation graphique et textuelle.

Par Nacer MOKHTARI
de National Instruments		 Travaux Pratiques sur NI LabVIEW SignalExpress, logiciel de mesure interactif

Par Yannick DEGLA
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Travaux Pratiques de programmation de systèmes temps réel

Par Maxime RENAUD
de National Instruments
11h30 - 12h00 Introduction à la gestion de données et au post-traitement avec NI DIAdem

Par Mehdi AFIF
de National Instruments		 Système de mesure et pilotage pour application d'échauffement cinétique sur la structure d'un Missile

Par Pierre TOUFIC
de SYSMA		 Introduction à la plate-forme PXI

Par Richard KEROMEN
de National Instruments
12h00 - 12h30 Introduction à la programmation de cibles temps réel et FPGA avec NI LabVIEW Real-Time et FPGA

Par Olivier LABONNE
de National InstrumentsVidéo connexe >> 		Nouveautés de LabVIEW Real-Time et LabVIEW FPGA

Par Alexandre MAUGERE
de National InstrumentsVidéo connexe >> 		Utilisation des diagrammes d'états avec le module NI LabVIEW Statechart

Par Richard KEROMEN
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Liaisons série haute vitesse pour le radar du Rafale

Par Raphaël TILLET
de ARCALE		 Système d'acquisition modulaire synchrone 150 voies pour le dimensionnement de méthanier

Par Samuel PACEY
de Styrel Technologies		 Travaux Pratiques sur LabVIEW et l'acquisition de données

Par Cédric FICHOT
de National Instruments		 Travaux Pratiques sur LabVIEW FPGA pour programmer vos E/S reconfigurables

Par Maxime RENAUD
de National InstrumentsVidéo connexe >>
12h30 - 13h00

 
13h00 - 14h30 Déjeuner et visite de l'exposition
Thème Initiation Nouveautés Automobile Acoustique et vibrations Médical Énergie Travaux pratiques Travaux pratiques
14h30 - 15h00 Introduction à l'utilisation d'instruments de mesure avec LabVIEW

Par Yannick DEGLA
de National Instruments		 Nouveautés en acquisition de données

Par Emmanuel ROSET
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Keynote Automobile

Par Yann PAGES
de National Instruments		 Outils pour l'acquisition et l'analyse de signaux acoustiques et vibratoires

Par Jean-Michel CHALONS
de SAPHIR		 Keynote Médical - Conception, prototypage et déploiement de matériels médicaux avec les outils de National Instruments

Par Sanaa TAZI
de National Instruments		 Keynote Energie - L'éco-conception, le nouveau défi des ingénieurs

Par Maxime RENAUD
de National Instruments		 Travaux Pratiques de mise en œuvre d'instruments modulaires

Par Mehdi AFIF
de National Instruments		 Travaux Pratiques de conception de systèmes embarqués avec NI CompactRIO

Par Olivier LABONNE
de National Instruments
15h00 - 15h30 Acquisition de données en Wi-Fi simple et sécurisée

Par Emmanuel ROSET
de National InstrumentsVidéo connexe >> 		Validation de vos systèmes électriques et électroniques avec TestInVIEW

Par Claude SCHERRER
de Clemessy		 Optimisation du procédé en cimenterie par analyse acoustique

Par Jean-Michel CHALONS
de SAPHIR		 Apport de la technologie NI dans l’optimisation de la circulation extracorporelle

Par Dr ABDELMOUMEN
de CHU de Bordeaux		 Utilisation de LabVIEW pour les tests et la caractérisation d'un système photovoltaïque

Par Lionel GIROD
de STeP
15h30 - 16h00 Introduction à la programmation textuelle pour l'instrumentation avec CVI et Measurement Studio

Par Nacer MOKHTARI
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Acquisition de données avancée avec NI-DAQmx

Par Emmanuel ROSET
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Détection de contact d’outil avec LabView FPGA

Par Christophe SILLON
de Datatechnic		 Développement d'un environnement de stimulation en IRM Fonctionnelle

Par Bruno NAZARIAN
de Centre d'IRMf de Marseille		 Système d'analyse en continu des émissions polluantes

Par Pierre DURIEZ
de Fuji Electric
16h00 - 16h30 Pause et visite de l'exposition
Thème Initiation Nouveautés Test Test automatisé Vision Énergie Travaux pratiques Travaux pratiques
16h30 - 17h00 Introduction à l'acquisition de données

Par Maxime RENAUD
de National Instruments		 Nouveautés de LabWindows/CVI 9.0 et de son Module Real-Time

Par Alexandre MAUGERE
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Comment réduire le coût de vos systèmes de test?

Par Emmanuel ROSET
de National Instruments		 Développez vos systèmes automatisés de test et de validation plus rapidement avec NI TestStand

Par Raphaël TILLET
de ARCALE		 Introduction à l'acquisition et à l'analyse d'images

Par Sami BEN FATHALLAH
de Alliance Vision		 Surveillance de qualité de puissance électrique

Par Dr. Daniel KAMINSKI
de Elcom		 Travaux Pratiques de programmation en C ANSI avec LabWindows/CVI

Par Laurent PASQUINELLI
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Travaux Pratiques de programmation de microcontrôleurs avec le Module NI LabVIEW Embedded for ARM Microcontrollers

Par Yannick DEGLA
de National Instruments
17h00 - 17h30 NI TestStand et LabVIEW valident les commutateurs RF chez Radiall

Par Jean-Louis SCHRICKE
de MESULOG		 Modernisation du système de contrôle/commande du pilotage des essais d'alternateurs nucléaires avec le matériel NI Compact FieldPoint

Par Jean-Baptiste CHAMBRE
de ALSTOM POWER
17h30 - 19h00 Cocktail, tombola et visite de l'exposition
19h00 Dîner, soirée et animations

Mercredi 4 février 2009

Cliquez sur le titre des présentations pour lire une description complète.
9h00 - 10h30 Keynote Technologique par Marc DJAOUI
Avec l'intervention de Eric Starkloff – Vice President Product Marketing, Test de National Instruments
10h30 - 11h00 Pause et visite de l'exposition
Thème Initiation Nouveautés Conception et instrumentation Algorithm engineering RF Programmation Travaux pratiques Travaux pratiques
11h00 - 11h30 Introduction à la programmation graphique avec NI LabVIEW

Par Sanaa TAZI
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Nouveautés en LabVIEW 8.6

Par Thomas BAUDOUIN
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Plate-forme intégrée de conception et de test de circuits avec NI Multisim

Par Yannick DEGLA
de National Instruments		 Comment exécuter vos scripts mathématiques sous LabVIEW ?

Par Jeannie FALCON
de National Instruments		 Keynote RF : les tendances du test sans fil avec la nouvelle plate-forme 6.6 GHz

Par Gérald ALBERTINI
de National Instruments		 Programmation parallèle : comparaison des méthodes de programmation graphique et textuelle

Par Nacer MOKHTARI
de National Instruments		 Travaux Pratiques sur LabVIEW et l'acquisition de données

Par Cédric FICHOT
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Travaux Pratiques sur LabVIEW FPGA pour programmer vos E/S reconfigurables

Par Maxime RENAUD
de National InstrumentsVidéo connexe >>
11h30 - 12h00 Mesures types en RF

Par Gérald ALBERTINI
de National Instruments
12h00 - 12h30 Introduction à la programmation de cibles temps réel et FPGA avec NI LabVIEW Real-Time et FPGA

Par Olivier LABONNE
de National InstrumentsVidéo connexe >> 		Nouveautés de LabVIEW Real-Time et LabVIEW FPGA

Par Alexandre MAUGERE
de National InstrumentsVidéo connexe >> 		Les nouveautés en instrumentation

Par Richard KEROMEN
de National Instruments		 Traitement du signal pour sytèmes ultrasonores avec NI LabVIEW MathScript

Par Gilles DESPAUX
de Université Montpellier 2		 Enregistrement et restitution de signaux RF

Par Mathieu REYROLLE
de National Instruments		 Travaux Pratiques sur la plate-forme NI d'enseignement de l'électronique : NI Multisim, NI ELVIS et NI LabVIEW

Par Yannick DEGLA
de National Instruments		 Travaux Pratiques de prise en main de toolkits LabVIEW

Par Maxime RENAUD
de National Instruments
12h30 - 13h00 Intégration d'un modèle Scilab, communication RF et Simulation HIL

Par Jean-Sébastien VIMONT
de ALYOTECH SYSTEMS		 Guide de programmation LabVIEW : les règles pour structurer votre code

Par Jérémy MARLIOT
de National Instruments
13h00 - 14h30 Déjeuner et visite de l'exposition
Thème Initiation Nouveautés Aéronautique Algorithm engineering RF Mécatronique Travaux pratiques Travaux pratiques
14h30 - 15h00 Introduction à l'utilisation d'instruments de mesure avec LabVIEW

Par Yannick DEGLA
de National Instruments		 Nouveautés en acquisition de données

Par Emmanuel ROSET
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Keynote Aéronautique - Les nouvelles technologies pour les domaines aéronautique, spatial et militaire

Par Olivier DAURELLES
de National Instruments		 Conception, simulation et implémentation de systèmes de contrôle avec LabVIEW

Par Jeannie FALCON
de National Instruments		 Quels sont les besoins en RFID ?

Par Richard KEROMEN
de National Instruments		 Keynote Mécatronique - Outils de prototypage pour la conception de machines mécatroniques

Par Maxime RENAUD
de National Instruments		 Travaux Pratiques de mise en œuvre d'instruments modulaires

Par Mehdi AFIF
de National Instruments		 Travaux Pratiques de conception de systèmes embarqués avec NI CompactRIO

Par Olivier LABONNE
de National Instruments
15h00 - 15h30 Acquisition de données en Wi-Fi simple et sécurisée

Par Emmanuel ROSET
de National InstrumentsVidéo connexe >> 		Pilotage et contrôle de soufflerie pour l’Institut Supérieur de l’Aéronautique et de l’Espace

Par Raphaël TILLET
de ARCALE		 Comment interfacer un modèle Simulink® ou Scade avec le Toolkit NI LabVIEW Simulation Interface ?

Par Benjamin MAVEL
de National Instruments		 Genération automatisée de signaux GPS : Toolkit NI GPS pour LabVIEW

Par Mathieu REYROLLE
de National Instruments		 Concevez de meilleurs Produits avec SolidWorks

Par Delphine GENOUVRIER & Bertrand LEBLANC
de Dassault Systèmes SolidWorks
15h30 - 16h00 Introduction a la programmation textuelle pour l'instrumentation avec CVI et Measurement Studio

Par Nacer MOKHTARI
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Acquisition de données avancée avec NI-DAQmx

Par Emmanuel ROSET
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Approche par modèles pour le contrôle-commande du vecteur poussée de moteurs de fusées

Par Bruno ORSONI
de SNECMA		 Intégration d'un modèle Scade dans LabVIEW

Par Luc COYETTE
de Esterel Technologies		 Les dernières techniques de traitement parallèle pour accélérer les tests RF

Par Steve BIRD
de AMFAX		 Interfaçage d'un modèle de CAO avec LabVIEW

Par Maxime RENAUD
de National Instruments
16h00 - 16h30 Tombola et visite de l'exposition
Thème Initiation Nouveautés Ferroviaire Algorithm engineering Algorithm Engineering & Test Mécatronique Travaux pratiques Travaux pratiques
16h30 - 17h00 Introduction à l'acquisition de données

Par Maxime RENAUD
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Nouveautés de LabWindows/CVI 9.0 et de son Module Real-Time

Par Alexandre MAUGERE
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Contrôle de boggies de TGV par ultrasons

Par Etienne BARDEY
de Styrel Technologies		 Comment programmer un microcontrôleur avec le Module NI LabVIEW Embedded for ARM ?

Par Benjamin ROUFFET
de National Instruments		 Gestion des exigences utilisateur au sein des logiciels NI

Par Eric LARRONDE
de Geensys		 Intégration étroite entre les systèmes de vision et la robotique avec LabVIEW pour la commande de robots industriels Mitsubishi et Denso

Par Ignazio PIACENTINI
de Imaging Labs		 Travaux Pratiques sur la gestion de données et le post-traitement avec NI DIAdem

Par Mehdi AFIF
de National Instruments		 Travaux Pratiques NI TestStand pour le développement de systèmes automatisés de test et validation

Par Salissou ISSA
de ARCALE
17h00 - 17h30 Contrôles Ferroviaire : Géométrie et usure caténaire et surveillance du gabarit caténaire

Par Sylvain JOUANNEAU & Véronique NEWLAND
de RATP & NEW VISION Technologies		 Utilisation des diagrammes d'états avec le Module NI LabVIEW Statechart

Par Richard KEROMEN
de National InstrumentsVidéo connexe >>		 Guide de programmation avancée NI TestStand : conseils et recommandations

Par Jean-Louis SCHRICKE
de MESULOG

Résultats du concours
des articles d’utilisateurs de 2008

Organisé par National Instruments France, en partenariat avec
Compte-rendu paru dans le numéro de mars du magazine Mesures (PDF)

Destiné à récompenser les développeurs d’applications basées sur des produits NI, le concours des meilleurs articles d’utilisateurs a donné lieu à une cérémonie de remise des prix lors de la manifestation NIDays 2009.

57 PARTICIPANTS !

Cette première édition a remporté un vif succès, avec 57 articles en compétition, affichés sous forme de posters sur l’exposition de NIDays 2009 et mis en ligne sur le site de ni.com (parmi les 226 articles disponibles en français).


>> Découvrez les 57 articles publiés en ligne
>> PARTICIPEZ AU CONCOURS !



5 CATÉGORIES - 5 LAURÉATS

Chacun des lauréats suivants a gagné un robot LEGO® MINDSTORMS® NXT ainsi qu’un abonnement d’un an au magazine Mesures.

  1. Dans la catégorie Acquisition/enregistrement de données :

Développement et gestion d'un environnement de stimulation en IRM Fonctionnelle avec LabVIEW 8.6 et des matériels PXI, SCXI et NI CompactDAQ
Par Bruno Nazarian (CHU Timones)

>> Résumé
>> Article complet


  1. Dans la catégorie Instrumentation/test électroniques

RADIALL double sa capacité de test avec l’instrumentation PXI
Par Jean-Louis Schrike (Mesulog) et Fabrice Janot (Radiall)

>> Résumé
>> Article complet


  1. Dans la catégorie Systèmes embarqués

La Branche « Automotive » de Continental teste ses capteurs de pression de combustion avec un outil d’acquisition angulaire temps réel basé sur le CompactRIO
Par Dominique Loze (ABOARD Engineering)

>> Résumé
>> Article complet


  1. Dans la catégorie PAC (contrôle d’automatismes programmable)

Le CompactRIO participe à la sécurité d'ouvrages souterrains
Par Vincent De Greef (Ecole Polytechnique)

>> Résumé
>> Article complet


  1. Dans la catégorie Enseignement

Le CompactRIO permet de former les ingénieurs au prototypage rapide et à la simulation « HIL » avec une application pédagogique de contrôle-commande
Par Joseph Boissinot (Groupe ESEO)

>> Résumé
>> Article complet


1 SUPER-LAURÉAT !

Parmi les 5 lauréats ci-dessus, le prix du meilleur article, toutes catégories confondues, revient à :
Développement et gestion d'un environnement de stimulation en IRM Fonctionnelle avec LabVIEW 8.6 et des matériels PXI, SCXI et NI CompactDAQ
Par Bruno Nazarian (CHU Timones)

>> Résumé
>> Article complet

M. Nazarian s’est vu offrir, en plus, un séjour NIWeek 2009 (du 4 au 6 août à Austin, Texas), tous frais payés !



PARTICIPEZ VOUS AUSSI ! (au prochain concours)

Le concours des meilleurs articles d’utilisateurs 2009 est d’ores et déjà ouvert. Si vous êtes utilisateur de produits NI et souhaitez rédiger un article, n'hésitez pas à contacter Patrick Renard au 01 57 66 24 31, ou par e-mail à ni.france@ni.com.

Quel intérêt aurais-je à participer ?
Chaque article d’utilisateur bénéficie d’une exposition significative. Il est :

  • publié sur l’une des pages les plus visitées de notre site (www.ni.com/solutions/f),
  • promu dans l’une des éditions françaises de notre lettre électronique mensuelle NI News, envoyée à des milliers d’abonnés,
  • intégré dans le CD des articles d’utilisateurs NI (le CD le plus demandé après celui de la démo de LabVIEW !)

… sans parler d’une diffusion dans la presse et au niveau international si l’application est très intéressante.

Bref… tout article d'utilisateur est un moyen particulièrement efficace de valoriser le travail quotidien de son auteur tout en offrant une publicité gratuite à son entreprise. Pensez-y bien si vous hésitez à investir 2 à 3 heures de votre temps !

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